Dimension Icon 原子力顯微鏡

Dimension Icon 原子力顯微鏡

Dimension® Icon™you秀的圖像分辨率，與Bruker*的電子掃描算法相結(jié)合，顯著提升了測(cè)量速度與質(zhì)量。Dimension®系列大樣品臺(tái)原子力顯微鏡始終處于行業(yè)地位，的Dimension® Icon™是針尖掃描技術(shù)的又一次革新，配置溫度補(bǔ)償位置傳感器，實(shí)現(xiàn)了Z軸亞埃級(jí)和XY軸埃級(jí)的低噪音水平，將其應(yīng)用在90微米掃描范圍的大樣品臺(tái)體系上，效果甚至優(yōu)于高分辨小樣品臺(tái)AFM的開(kāi)環(huán)噪音水平。全新設(shè)計(jì)的XYZ閉環(huán)掃描頭，即使在較高的掃描速度工作時(shí)，也不會(huì)損壞圖像質(zhì)量，實(shí)現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。

zhong極體驗(yàn)

Dimension Icon 原子力顯微鏡 *的傳感器設(shè)計(jì)，在閉環(huán)條件下，也能實(shí)現(xiàn)大樣品臺(tái)、針尖掃描的AFM具有與開(kāi)環(huán)噪音水平一樣的低噪音水平，且具有*的掃描分辨率

*地降低噪聲水平，在輕敲模式下低于30pm，接觸模式下可獲得原子級(jí)圖像

熱漂移速率低于200pm/分鐘，獲得真正的樣品圖像

高效率

XYZ閉環(huán)掃描器的*設(shè)計(jì)，使儀器在較高掃描速度工作時(shí)，也不降低圖像質(zhì)量，具有更大的數(shù)據(jù)采集效率

將十年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn)融入到參數(shù)預(yù)設(shè)置中，在新的NanoScope® 軟件帶有默認(rèn)的實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｊ健?/p>

高分辨率相機(jī)和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測(cè)量位置

全功能

針尖和樣品之間開(kāi)放式的空間設(shè)計(jì)，不僅可以進(jìn)行各種標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)，也可以自行設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案，滿足不同研究工作的需求

硬件和軟件技術(shù)的不斷創(chuàng)新，新開(kāi)發(fā)的HarmoniX 模式，可以測(cè)量納米尺度上材料性質(zhì)

用戶實(shí)用程序腳本提供半自動(dòng)測(cè)量方案和數(shù)據(jù)分析