Nexsa系列 X射線光電子能譜儀

Nexsa系列 X射線光電子能譜儀

Nexsa 能譜儀具有靈活性，可zui大限度地發(fā)揮材料潛能。在使結(jié)果保持研究級質(zhì)量水平的同時，以多重整合技術(shù)選項的形式提供靈活性，從而實現(xiàn)真正意義上的相關(guān)性數(shù)據(jù)分析和高通量。

標(biāo)準(zhǔn)化功能催生*性能：

絕緣體分析

高性能光譜

深度剖析

多技術(shù)整合

雙模式離子源，使深度剖析功能得到擴展

用于 ARXPS 測量的傾斜模塊

用于儀器控制、數(shù)據(jù)處理和報告的 Avantage 軟件

小光斑分析

可選的升級：可將任何全自動化集成技術(shù)添加到您的分析中。觸動按鈕即可運行。

ISS：在離子散射光譜技術(shù)中，一束離子可被某物體表面散射

UPS：紫外光電子能譜是指對吸收了紫外光子的分子所發(fā)射的光電子動能譜進行測量，以確定化合價區(qū)域中的分子軌道能量

Nexsa系列 X射線光電子能譜儀 拉曼：能譜技術(shù)在化學(xué)領(lǐng)域被用于提供結(jié)構(gòu)指紋

REELS：反射電子能量損失譜

借助 SnapMap 的光學(xué)視圖，聚焦于樣品特征。光學(xué)視圖可以幫助您快速定位感興趣區(qū)域，同時生成*聚焦的 XPS 圖像，以進一步定義您的實驗。

X 射線照射樣品上的一個小區(qū)域。

收集來自這一小區(qū)域的光電子并將其聚焦于分析儀

隨著鏡臺的移動，不斷采集能譜

在整個數(shù)據(jù)采集過程中監(jiān)測鏡臺位置，這些位置用來生成 SnapMap