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GB/T5170.10《電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設備》標準規定了高低溫低氣壓試驗箱(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。
高低溫低氣壓試驗箱GB/T5170.10標準適用于GB/T2423.21《電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗方法 試驗M 低氣壓》、GB/T2423.25《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/AM 低溫/低氣壓綜合試驗》和GB/T2423.26《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/BM 高溫/低氣壓綜合試驗》。也適用于類似試驗設備的檢驗。
高低溫低氣壓試驗箱檢驗項目如下:低氣壓偏差、氣壓變化速率、綜合檢驗溫度偏差、綜合檢驗溫度波動度、綜合檢驗溫度均勻度、綜合檢驗氣壓偏差、綜合檢驗每5min溫度平均變化速率、綜合檢驗氣壓變化速率、溫度指示誤差、氣壓指示誤差、溫度過沖量、溫度過沖恢復時間、噪聲。
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