IC電性能測試數(shù)字源表iv曲線掃描

IC電性能測試數(shù)字源表iv曲線掃描優(yōu)勢

• 性能強-作為電壓源和或電流源，并同步測量電流和或電壓，支持四象限工作。可以限定電壓或電流輸出大小，預(yù)防器件損壞。覆蓋3pA-3A的電流范圍100μV-300V的電壓范圍，全量程測量精度0.03%。

• 靈活多樣-支持兩線制和四線制測量，更準(zhǔn)確的低內(nèi)阻量測;集成線性階梯掃描、對數(shù)階梯掃描、自定義掃描等模式;專業(yè)l-V特性及半導(dǎo)體參數(shù)測試軟件。

• 易學(xué)實用-簡化了如I-V和l-t/V-t曲線等各種應(yīng)用的測量準(zhǔn)備工作。電容式觸摸屏圖形用戶界面(GUI),提供圖形化和數(shù)字化兩種測量結(jié)果顯示模式，便于使用和查看，更多產(chǎn)品詳情上普賽斯儀表官&網(wǎng)咨詢

多合一高精密SMU，J致簡化測量

統(tǒng)的半導(dǎo)體I-V特性測量方案通常是復(fù)雜且成本昂貴的，需要多種儀器配合完成測試，對不同儀器進(jìn)行編程、同步、連接、測量和分析，既復(fù)雜又耗時，還需占用大量測試臺空間。

S系列數(shù)字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負(fù)載，其高性能架構(gòu)允許其使用作為波形發(fā)生器、以及自動電流-電壓(I-V)表征系統(tǒng)。極大縮短測試系統(tǒng)的開發(fā)、建立和維護(hù)的時間，同時節(jié)省測試架或測試臺的寶貴“空間”，降低購買測試系統(tǒng)的整體成本。

四象限工作，可以作為源或負(fù)載

電源象限是指以電源輸出電壓為X軸、輸出電流為Y軸形成的象限圖。D一、三象限即電壓電流同向，源表對其它設(shè)備供電，稱為源模式；第二、四象限即電壓電流反向，其它設(shè)備對源表放電，源表被動吸收流入的電流，且可為電流提供返回路徑，稱為阱模式。

與傳統(tǒng)矩陣電源不同，S系列源表在同等功率下，客戶可根據(jù)實際需求，選擇大電壓小電流或小電壓大電流輸出。選擇的量程不同，S系列源表的源/阱極限也有區(qū)別。

源限度-電壓源:

士10V  (≤3A量程)，土30V (≤1A量程),士300V (≤100mA量程)

源限度-電流源:

土3.15安(≤10V量程)，土1.05安(≤30V量程)，士105mA (≤300V量程)

輕松滿足常用的測量需求

觸摸屏幕上的任意圖標(biāo)，就會出現(xiàn)圖像化設(shè)置屏幕。在測量前按照向?qū)е鹨辉O(shè)置，操作更直觀。

提供的應(yīng)用程序

-   序列掃描

-   自定義序列

-   數(shù)據(jù)記錄儀：持續(xù)輸出恒壓源測試模式；持續(xù)輸出恒流源測試模式

-   APD管

-   晶體管：MOSFET管測試；三極管測試

-   LIV：PIN管掃描測試

-   Gummer：雙臺源表使用同樣參數(shù)進(jìn)行掃描

*二極管完整l-V特性曲線

應(yīng)用領(lǐng)域

分立器件特性測試：電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量與效率特性測試：LED/AMOLED、太陽能、電池、DC/DC轉(zhuǎn)換器；
傳感器特性測試：電阻率、霍爾效應(yīng)等；
有機材料特性測試：電子墨水、印刷電子技術(shù)等；
納米材料特性測試：石墨烯、納米線等；
激光器特性測試：窄脈沖LIV測試系統(tǒng)；
功率器件：靜態(tài)測試系統(tǒng)；
電流傳感器：動靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)；

普賽斯歷時多年打造了高精度、大動態(tài)范圍、國產(chǎn)化的源表系列產(chǎn)品，集電壓、電流的輸入輸出及測量等功能于一體。可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負(fù)載。其高性能架構(gòu)還允許將其用作脈沖發(fā)生器，波形發(fā)生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng)，支持四象限工作。普賽斯“五合一”高精度數(shù)字源表（SMU）可為高?？蒲泄ぷ髡?、器件測試工程師及功率模塊設(shè)計工程師提供測量所需的工具。不論使用者對源表、電橋、曲線跟蹤儀、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀或示波器是否熟悉，都能簡單而迅速地得到精確的結(jié)果。欲了解更多IC電性能測試數(shù)字源表iv曲線掃描信息，歡迎隨時上普賽斯儀表官&網(wǎng)咨詢！