寬溫域半導體漏電流測試系統

華測儀器SIR-450寬溫域半導體漏電流測試系統

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

SIR-450寬溫域半導體漏電流測試系統由華測儀器生產，該系統具有自動平均值功能，自動平均值是檢測電流的變化，并自動將其進行平均化的功能，在查看測量結果的同時不需要改變設置。通過自動排除充電電流的過渡響應時或接觸不穩定導致偏差較大；電流輸入端口采用大口徑三軸連接器。可兼顧抗干擾的穩定性和高壓檢查時的防護性。

多種加溫方式

勻速度加熱試驗

階梯式加熱試驗

熱循環試驗（僅供反射爐）

降溫試驗

加速度升溫（僅供反射爐）

產品參數

溫度范圍：-100 ~ 350°C

控溫精度：0.5°C

升溫斜率：10℃ / min（可設定）

電阻：1×10¹⁶Ω

電阻率：1×10³Ω ~ 1×10¹⁶Ω

輸入電壓：220V

樣品尺寸：φ ＜25mm，d ＜4mm

電極材料：黃銅

夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

絕緣材料：99氧化鋁陶瓷

測試功能：高低溫電阻率

數據傳輸：RS-232

華測儀器的業務涵蓋從單臺測試設備供應到整體實驗室規劃建設的全過程。建設絕緣材料或功能材料電性能檢測實驗室，華測儀器可提供從方案設計到交付驗收的完整服務。