鐵電薄膜材料電容電壓測(cè)試裝置

華測(cè)儀器Huace FE-3000鐵電薄膜材料電容電壓測(cè)試裝置

  鐵電薄膜材料電容電壓測(cè)試裝置由華測(cè)儀器生產(chǎn)，有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍，可應(yīng)用于鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器等研究。在±10V的內(nèi)置電壓下，電滯回線測(cè)試頻率可達(dá)1MHz。還可通過(guò)外接的功率放大器模塊將電壓升到50V~50kV。

  內(nèi)置HuacePro測(cè)試軟件，具有自動(dòng)數(shù)據(jù)顯示、算法分析和實(shí)時(shí)參數(shù)提取功能,操作友好使用便捷，在不改變樣品連接的情況下就可執(zhí)行電滯回線、脈沖、漏電流、IV和CV測(cè)試等，可選配件也可實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC、電介質(zhì)充放電、介電溫譜、高低溫電阻等測(cè)量功能。

  1、產(chǎn)品參數(shù)

  輸出范圍：±10V（內(nèi)置放大器±200V）

  輸出頻率上限：1MHz（±10V），100kHz（±200V）

  輸出電流上限：20mA（±10V），100mA（±200V）

  輸出：16位任意波形發(fā)生器輸出

  準(zhǔn)確性：0.5%或更高

  脈沖寬度(PUND)下限：100ns

  上升時(shí)間下限：100ns

  脈沖寬度(PUND)上限：1s

  區(qū)域分辨率上限：52.6mC

  電滯回線頻率范圍 ：1mHz ~ 1MHz

  模擬輸入通道:高可達(dá)50MS/s，±10V(16位)

  測(cè)試電容范圍上限:1nF(與測(cè)試頻率有關(guān))

  輸出阻抗:10Ω

  輸出：16位任意波形發(fā)生器輸出

  可外接高壓放大器 （可外接20kV高壓放大器需配置高壓防護(hù)模塊）：±20V, ±100V，±200V，±500V，4kV，10kV，20kV；還可搭配塊體變溫測(cè)試盒、薄膜變溫探針臺(tái)、激光干涉儀。