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L340i PHOENIX移動式氦檢漏平臺

Name: L340i PHOENIX移動式氦檢漏平臺
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產品簡介

氦檢質譜漏儀的原理氦檢質譜漏儀可查找漏點位置并測定漏率（通過漏孔的氣體流量）。因此，氦質譜檢漏儀是一臺氦流量計。檢漏儀在工作過程中首先是對試驗對象進行抽真空，來形成壓差使外部氣體穿過漏孔進入檢漏儀。檢漏儀利用內置氦質譜儀測量進入檢漏儀氣體氦分壓并將測量結果轉換為漏率顯示。顯示值單位一般采用流量單位。重要技術規范測量范圍和響應時間是檢漏儀的兩個重要的參數。測量范圍用小和可檢漏率限定。小可檢漏率用靈敏......

詳細介紹

氦檢質譜漏儀的原理

氦檢質譜漏儀可查找漏點位置并測定漏率（通過漏孔的氣體流量）。因此，氦質譜檢漏儀是一臺氦流量計。

檢漏儀在工作過程中首先是對試驗對象進行抽真空，來形成壓差使外部氣體穿過漏孔進入檢漏儀。檢漏儀利用內置氦質譜儀測量進入檢漏儀氣體氦分壓并將測量結果轉換為漏率顯示。顯示值單位一般采用流量單位。

重要技術規范

測量范圍和響應時間是檢漏儀的兩個重要的參數。

測量范圍用小和可檢漏率限定。

小可檢漏率用靈敏的測量范圍系統的漂移與噪聲之和定義。每分鐘內系統噪聲幅度和零點漂移相加就可以得到低可檢漏率。檢漏儀的零點漂移量非常小，所以一般僅采用噪聲幅度就可以確定檢漏儀的小可檢漏率。可檢漏率依賴于所采用的檢漏方法，利用逆流法和分流法（參見下面的說明）可以測量非常大的漏率。此外，檢漏儀內部的多級高阻抗輸入開關放大器也能提高檢漏儀測量大漏的能力。在實際的檢漏操作過程中特別是查找漏點的時候，響應時間十分重要。該時間指從用氦氣噴吹試驗對象直到檢漏儀顯示測量值所用的時間。電子信號調節電路系統的響應時間是總響應時間的重要組成部分。對于檢漏儀來說，電氣系統的響應時間遠小于1秒。

檢漏設備對氦的有效抽速決定了氦氣通過漏孔進入檢漏儀的時間（如果檢漏設備沒有輔助抽空的系統，檢漏儀內置的真空泵的大小會影響系統的響應時間）。檢漏系統的響應時間可根據下面的簡單公式計算：

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