納米粒徑與電位分析儀

Nicomp 380 Z3000系列納米粒徑與電位分析儀是在原有的經典型號380ZLS&S基礎上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，同機采用多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm，ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極，一個電極可以使用成千上萬次。另外，采用可變電場適應不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度，亦幫用戶大大節(jié)省檢測成本。

納米粒徑與電位分析儀技術優(yōu)勢

1、APD&PMT雙檢測器；

2、多角度檢測（multi angle）模塊；

3、可搭配不同功率光源；

4、雙列直插式電極和樣品池，可反復使用成千上萬次；

5、鈀電極；

6、精確度高，接近樣品真實值；

7、復合型算法：

 高斯（Gaussion）單峰算法與的Nicomp多峰算法自由切換

 相位分析法（PALS)和頻譜分析法（FALS）自由切換

8、快速檢測，可以追溯歷史數據；

9、結果數據以多種形式和格式呈現；

10、符合USP,CP等個多藥典要求；

11、無需校準；

12、復合型算法：

（1）高斯（Gaussion）單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換

10、模塊化設計便于維護和升級；

（1）可自動稀釋模塊；

（2）搭配多角度檢測器；

（3）自動進樣系統(tǒng)（選配）；

380/MA多角度檢測器

粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調節(jié)檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175，步長0.7°的多角度測角器，從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品，通過調節(jié)角度進行檢測，改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度。